Difratômetro de Raios X (XRD) TDM-20

Precisão Goniométrica e Confiabilidade na Identificação de Fases Cristalinas

O XRD TDM-20 é um difratômetro de raios X desenvolvido para oferecer alta resolução angular, estabilidade operacional e reprodutibilidade na caracterização de materiais policristalinos. Projetado tanto para o controle de qualidade industrial exigente quanto para a pesquisa e desenvolvimento (P&D), o sistema combina um goniômetro de alta precisão a detectores avançados, permitindo a identificação qualitativa e a quantificação precisa de fases e compostos cristalinos pelo método do pó (Powder XRD).

Principais Diferenciais Técnicos

• Alta Resolução Angular: Goniômetro de grande precisão mecânica que garante o alinhamento correto dos picos de difração e a separação de fases sobrepostas.
• Segurança Radiológica Total: Gabinete com blindagem reforçada contra radiação e sistema de intertravamento de segurança (interlock), em conformidade com as normas internacionais.
• Flexibilidade Analítica: Suporte a diferentes tipos de porta-amostras para pós, lâminas e peças sólidas, adaptando-se à rotina do seu laboratório.
• Software de Processamento Avançado: Ferramentas para identificação rápida de fases com integração a bancos de dados internacionais (ICDD/PDF) e suporte a refinamento quantitativo por Método de Rietveld.

Principais Aplicações

• Mineração e Geologia: Mineralogia quantitativa de minérios, caracterização de argilominerais e controle do processo de beneficiamento.
• Cimento e Materiais de Construção: Monitoramento de fases de clínquer, gesso, calcário e avaliação de reações de hidratação.
• Metalurgia e Cerâmicas Avançadas: Análise de transformações de fase, verificação de cerâmicas refratárias e fases cristalinas residuais.
• Universidades e Centros de Pesquisa: Caracterização de novos materiais, sintéticos químicos e pesquisa em ciência dos materiais.

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