
1.Detector SDD (Silicon Drift Detector)
Proporciona alta resolução energética, melhor relação sinal/ruído e maior sensibilidade, especialmente para elementos leves, garantindo resultados mais precisos e estáveis.
2.Sistema de vácuo integrado
Aumenta significativamente a sensibilidade para elementos de baixo número
atômico (Na, Mg, Al, Si, P, S), reduzindo a absorção do ar e melhorando os limites de detecção.
3.Sample Spinner (rotacionador de amostras)
Minimiza efeitos de heterogeneidade da amostra, melhorando a repetibilidade e a representatividade dos resultados analíticos.
4.Software qualitativo e quantitativo avançado
Permite identificação rápida dos elementos presentes e quantificação precisa,
com interface intuitiva e geração automática de relatórios.
5.Método de Parâmetros Fundamentais (FP)
Possibilita análises quantitativas confiáveis mesmo sem padrões específicos,
aumentando a flexibilidade analítica e reduzindo custos de calibração.
6.Fonte de raios X de alta potência
Garante maior intensidade de excitação, melhor sensibilidade e tempos de
análise reduzidos, aumentando a produtividade do laboratório.
| Range | Na a U |
|---|---|
| Potência | 50kV até 1.000uA |
| Tipo de amostra | Pó, Sólidos e Líquidos. |
| Câmara Analítica | Ar e Vácuo |
| Concentração | ppm a 100% |
| Resolução | 125eV |
| Detector | SDD |
| CPS | ~2.000.000 |
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